266nm〜3000µmのビームプロファイリング
レーザービーム全体の平均や瞬時のパワー、またはエネルギーを測定するパワーメーターとは異なり、パワーがビーム内でどのように分布しているかを知ることも同様に重要です。 例として、何かを切断したい場合、一般にパワーをビームの中心に集束させて、パワー密度を非常に小さな領域に集中させる必要がありますが、すべてのパワーを中心に集束させて何かを溶接しようとすると、 溶接部に穴を開けてしまうことになり、 トップハットのプロファイルの様に、パワーを均等にする必要があります。
カメラ方式のプロファイリングの概要
カメラ方式のビームプロファイラーシステムは、カメラ、プロファイラーソフトウェア、およびビーム減衰アクセサリーで構成されています。 Spiriconは、市場で最も広帯域の波長をカバーするカメラを提供し、13nmから3000μmまでの波長に対応します。 USBインターフェース等、フレキシブルなインターフェースによりラップトップまたはデスクトップコンピューターのいずれかで使用を提供します。 続きを読む READ MORE
BeamGageによるビームプロファイリング

BeamMicによる簡易的なビームプロファイリング
スリット方式のプロファイリングの概要
スリットスキャンビームプロファイラーは測定中、ビームを通すリニアフォトディテクターの前にある2つの狭い直交スリットが移動します。スリットを通過するビームにより、ディテクターに電流が発生します。 したがって、スリットがビームを走査するとき、ディテクターのシグナルは、スリットに沿って統合された空間ビーム放射照度プロファイルに線形に比例します。 デジタルエンコーダーは正確なスリット位置を提供します。 光誘起された電流信号はデジタル化および分析され、2つの直交スリットからXとYの両方のビームプロファイルが取得されます。続きを読む READ MORE