266nm〜3000µmのビームプロファイリング

レーザービーム全体の平均や瞬時のパワー、またはエネルギーを測定するパワーメーターとは異なり、パワーがビーム内でどのように分布しているかを知ることも同様に重要です。 例として、何かを切断したい場合、一般にパワーをビームの中心に集束させて、パワー密度を非常に小さな領域に集中させる必要がありますが、すべてのパワーを中心に集束させて何かを溶接しようとすると、 溶接部に穴を開けてしまうことになり、 トップハットのプロファイルの様に、パワーを均等にする必要があります。

カメラ方式のプロファイリングの概要

カメラ方式のビームプロファイラーシステムは、カメラ、プロファイラーソフトウェア、およびビーム減衰アクセサリーで構成されています。 Spiriconは、市場で最も広帯域の波長をカバーするカメラを提供し、13nmから3000μmまでの波長に対応します。 USBインターフェース等、フレキシブルなインターフェースによりラップトップまたはデスクトップコンピューターのいずれかで使用を提供します。 続きを読む READ MORE

BeamGageによるビームプロファイリング

BeamGage®のカメラ方式ビームプロファイリングシステムは、カメラと分析ソフトウェアで構成されています。

多くの場合、このシステムは、レーザーの用途に応じて、減衰光学系または拡大/縮小光学系のアクセサリーと共に

使用する必要があります。続きを読む READ MORE

BeamMicによる簡易的なビームプロファイリング

スリット方式のプロファイリングの概要

スリットスキャンビームプロファイラーは測定中、ビームを通すリニアフォトディテクターの前にある2つの狭い直交スリットが移動します。スリットを通過するビームにより、ディテクターに電流が発生します。 したがって、スリットがビームを走査するとき、ディテクターのシグナルは、スリットに沿って統合された空間ビーム放射照度プロファイルに線形に比例します。 デジタルエンコーダーは正確なスリット位置を提供します。 光誘起された電流信号はデジタル化および分析され、2つの直交スリットからXとYの両方のビームプロファイルが取得されます。続きを読む READ MORE

NanoScanによるビームプロファイリング