Wide Beam Imager

Ophir Wide Beam Imager:WB-Iは、ビームプロファイラ用のコンパクトでキャリブレーションされたアクセサリであり、平行光やVCSEL・LEDのような大きなビーム径と発散角を持つ光源でも、ビームサイズと強度分布を測定する事ができます。受光面には45mmの拡散板が採用され、拡散板に投影されたビームは筐体内で約8分の1に縮小し、カメラの素子に結像されます。 VCSEL、LED、ファイバーレーザーは、多くの精密なアプリケーションで使用されています。デバイスの高品質を保証するには、ビームプロファイルを分析することが不可欠ですが、これらの大きな、発散角のあるビームは、測定システムに特定の条件が必要とされます。:

  • 従来のビームプロファイラーの開口部は小さすぎて、大きな光源または大きな発散角を持つ光源のビーム径は測定できません。
  • ディテクターの量子効率は入射角に大きく依存するため、通常のディテクターでは発散ビームを正確に測定できません。WB-Iのコンパクトで頑丈、且つ携帯可能な設計により、VCSELおよびLEDシステムのビ ームプロファイリングは生産ラインやR&Dラボでの運用と同じように顧客サイトでの測定が可能となります。
  • 標準のビームプロファイラは入射角15°迄が対応可能であるのに対し、入射角最大70°まで測定を可能にします。
  • WB-Iは、カメラ、BeamGageソフトウェアと共に利用する事で、リアルタイムなビーム形状の分析と視覚化を提供します。
  • 簡易NDフィルタ やアイリスを用いた可変減衰により、異なるパワーを持つ光源でも測定可能です。

設計対象: 光通信、自動車、リモートセンシング、顔やジェスチャーの認識システム
対象光源: VCSEL、LED、ワイドレーザービーム、ファイバー
測定可能な項目: ファーフィールドでの強度分布、発散角、VCSEL用LIVスイープテスト(ビームプロファイル 対 電流(A))
WB-Iアクセサリには、2つのバージョンがあります。UV-VIS-NIR(350〜1100 nm)と アイセーフ向けIRアプリケーション用 SWIR(900~1700 nm)です。 *WB-Iを用いての測定には、別途高解像度カメラとBeamGage Professionalイメージングおよび分析ソフトウェアが必要となりますので予めご了承下さい。

カメラ

アプリケーション例:
VCSELの強度分布は、電流、パルス幅、繰返し周波数、デバイスの温度などのパラメータに直接依存します。 したがって、VCSELの強度分布は、製造プロセスのさまざまな段階で、また研究開発やフィールドサービスで測定することが不可欠です。 LIVスイープテストでのVCSELの動作:VCSELは、低電流しか印加されていない場合、いわゆる「LEDモード」になります。 VCSELに適用される電流が上昇すると、そのビームプロファイルは「レーザーモード」に変わります。

ModelWide Beam Imager WideBeam Imager SWIR
波長範囲350(1)-1100nm900-1700nm
有効口径(2)Ø45mmØ45mm
ビーム径 (2), (3)10mm– 45mm10mm– 45mm
入射角<70°>70°
分解能(4), (5)0.5mm0.5mm
最小感度100μW/cm²(6)3μW/cm² (With Iris fully opened at 1550nm)
測定最大出力 CW(7)200W unlimited, 1000W for 1 minute50W unlimited time
測定最大エネルギー(8)For ns pulses 1.5J/cm²N/A
CCDリセス4.5mm CCD recess camera17.5 mm (C-Mount)
寸法L=258mm X Ø57mmL=265mm X Ø57mm (Ø73mm Iris control)
重量(CCDカメラ含む)0.5 kg (0.7 kg)0.6 kg (0.8 kg)
製品番号SP90553SP90605
注釈:(1) カメラの波長感度は350nm迄となります。350nm以下の場合は、スクリーンの蛍光した像が表示されます。
(2) カメラのCCDサイズによりY方向は43mmに制限されます。
(3) 精度は低下しますが5mm迄のビーム径測定が可能です 。
(4) 低コントラストの場合、ブラー効果により分解能は~0.8mm程度になります。
(5) 小径ビームの測定誤差は<5%であり、直径の増加に比例して減少します。
(6) 2つのND1フィルターがカメラに取り付けられている場合
(7) WB-Iの場合、光の80%がシステム内で拡散され、20%が後方散乱されます。WB-I SWIRの場合、光の50%が システム内で拡散され、50%が後方散乱されます。
(8) 1.064μmにおいて。0.9μm未満の波長の場合, 上記値の40%まで下がり、更に<0.4μm の場合は20%まで下がります。

 

カタログ/マニュアル