NanoScan 2s
NanoScan 2s
NanoScan 2s

NanoScan 2s Si/3.5/1.8

小スポット径計測、スリット式ビームプロファイラ、シリコンディテクタ、口径3.5mm、スリット1.8um
概要: 

 

シリコンディテクタを採用しているNanoScanナノスキャン・スリット式ビームプロファイルシステムは、波長帯域190-1100nmに対応、小スポット径に対応、リアルタイムに近いデータを補足、オプションでパワー測定機能、CWまたはkHzまでのパルスレーザ、UV、VIS、NIRレーザに対応。

  • ビームサイズ 7um〜約2.3mm
  • パワーレベル約10nW〜約10W
  • USB 2.0 インターフェース
  • NanoScan スタンダード版及びプロフェッショナル版付属

仕様

  • 190-1100nm
  • 7μm - 2.3mm
  • USB 2.0
  • シリコン
  • CW、パルス >25kHz
  • ~10nW - ~10W
  • 1.8µm
  • 3.5mm
  • 83mm
ビームプロファイラの選定は ビームプロファイラ・ウィザードをご利用ください。

製品概要

シリコンディテクタ採用のナノスキャン用ソフトウェアについては製品ページよりご参照ください。

  • NS2s-SI/3.5/1.8-STD

    PH00456

    NanoScan 2s シリコンディテクタ、口径3.5mm、スリット 1.8um、高分解能ヘッド、直径63.5mm、回転マウント、波長帯域190nm〜<1.1um(1.06umは範囲外)*ソフトウェア スタンダード版

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  • NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

    PH00464

    NanoScan 2s シリコンディテクタ、口径3.5mm、スリット 1.8um、高分解能ヘッド、直径63.5mm、回転マウント、波長帯域190nm〜<1.1um(1.06umは範囲外)*ソフトウェア プロフェッショナル版、ActiveX対応

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  • NSv2 STD to NSv2 PRO ソフトウェアアップグレード

    PH00417

    NanoScan V2ソフトウェアスタンダード版からプロフェッショナル版へのバージョンアップ。

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FAQ

NanoScanナノスキャンのディテクタはどの位置にありますか?

ディテクタはスリットの後ろ側に装着されています。位置自体は測定に影響はしません。測定プレートはスリットのスキャンプレーンで、通常フロントキャップ面から1.1mmです。スキャンヘッドの図面をご参照ください。

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シリコンディテクタを採用したNanoScanは波長1064nmの計測に向いていないのはなぜですか?

シリコンディテクタは波長帯域NIRから>1000nmに感度があります。もしもこのようなビームを測定する場合には、信号が減衰するのに十分な速さではないので、よくテイルプロファイルが確認されます。正しい測定結果が得られない場合があります。

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NanoScanナノスキャンをセットアップしてビーム計測をした後に、プロファイルが前後に跳ね返ります。

一般的にはオートマティックROIの選択です。ビームを計測した後で、ROI メニューから、Auto ROIのチェックを外すとビームが安定します。

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NanoScanのスリットはビームを回析しませんか?

回析します。しかしスリット位置の関係で、NanoScanはディテクタからの全ての光を計測しますが、計測結果には影響を及ぼしません。

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動画

NanoScanナノスキャン・スリット式ビームプロファイラ NanoScanナノスキャン・スリット式ビームプロファイラ
なぜレーザビームを計測するのか。 なぜレーザビームを計測するのか。 なぜレーザビームを計測するのか。

オフィール・スピリコンのセールスエンジニアによるレーザ計測の説明です。

レーザ計測&ビームプロファイルの基礎 レーザ計測&ビームプロファイルの基礎 レーザ計測&ビームプロファイルの基礎

レーザ計測&ビームプロファイルの基礎についての説明です。

NanoScanナノスキャン・スリット式ビームプロファイラの操作方法。高出力NeNeレーザを使用しています。

Support

チュートリアル

非点収差を簡単に計測する

Simple NanoScan/BeamScan Measurements ofLaser Diode Beams Produces Astigmatism DataAstigmatism measurements of laser diodes, optical elements, and/or other sources can be made quickly and easily using a NanoScan/BeamScan. For example, by simply focusing the beam from a laser diode onto the profiler and measuring the distance between primary and secondary foci, an indication of source astigmatism is readily obtained. However, since this distance is on the order of 10 microns (μm), longitudinal magnification can be used to accommodate this measurement and reduce potential errors. This method 詳細を見る

減衰系を少なくしてハイパワー計測を行う

High power is a fairly indistinct term that means different things in different contexts. High power laser beams are handled by using reflective materials, and the level of reflectivity is dependent on the wavelength of the laser light.  詳細を見る

ナノスキャンV2ソフトウェアのアップグレード(スタンダード版からプロフェッショナル版)

The NS v2 software is the same for both Standard and Professional, no need to download/install a different version. To perform the upgrade you must purchase the license for the NS v2 Professional. With the included license key you can click on the blue scanhead image in the left corner and select About from the dropdown, where you can then upgrade the scanhead from the Upgrade License box (see below).      詳細を見る