アクセサリー
レーザービームプロファイラー用の光学系オプションをご用意しています。ビームを減衰、拡大、縮小して高精度なビームプロファイルを実現します。
レーザービームプロファイラー用の光学系オプションをご用意しています。ビームを減衰、拡大、縮小して高精度なビームプロファイルを実現します。
レーザービームプロファイラーのオプションで減衰用NDフィルターを各種取り揃えております。
Ophir Wide Beam Imager:WB-Iは、ビームプロファイラ用のコンパクトでキャリブレーションされたアクセサリであり、平行光やVCSEL・LEDのような大きなビーム径と発散角を持つ光源でも、ビームサイズと強度分布を測定する事ができます。受光面には45mmの拡散板が採用され、拡散板に投影されたビームは筐体内で約8分の1に縮小し、カメラの素子に結像されます。 VCSEL、LED、ファイバーレーザーは、多くの精密なアプリケーションで使用されています。デバイスの高品質を保証するには、ビームプロファイルを分析することが不可欠ですが、これらの大きな、発散角のあるビームは、測定システムに特定の条件が必要とされます。:
レーザービームプロファイラーのオプションで減衰用ビームスプリッターを各種取り揃えております。
レーザービームプロファイラーのオプションでNDフィルターとビームスプリッターの組み合わせを各種取り揃えております。
小口径ビームをイメージングする時に分解能となりますが、ビームエキスパンダーとマイクロスコープでビームサイズを大きくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
大口径ビームをイメージングする時にイメージよりもビームが大きい場合、ビームリデューサーでビームサイズを小さくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
ビーム径が大きすぎて従来の直接入射やサンプリングの方法で測定できない場合は、イメージの正面後ろにイメージングレンズを固定してビームが投影される面まで集光点を調整します。
UV光をVIS光に変換用のコンバーターをご用意しております。
ニアフィールドプロファイラーはCCDプロファイラーとスリット式スキャニングカメラ両方で使用可能で極小ビームをプロファイル可能。ディテクターアレイのピクセルサイズのために測定できない極小ビームを拡大します。