比較 モデル 図面、CAD、仕様 在庫状況 価格
SP90605
WB-I SWIR
900〜1700nm SWIR波長用ワイドビームイメージャ(WB-I)有効口径:45mm
$4,987
7 Weeks
7 Weeks
SP90612
WB-I VIS
ワイドビームイメージャー(WB-I)縮小光学系、Ø45 mm, 360-1100 nm
$4,675
In Stock
In Stock

仕様

  • ビームサイズ
    10 to 45 mm
  • 有効口径
    Ø45 mm
  • 入射角
    <70 degrees

特徴

Wide Beam Imager/ワイドビームイメージャーの紹介

OphirのWide Beam Imager/ワイドビームイメージャーは、ビームプロファイラ用のコンパクトでキャリブレーションされたアクセサリであり、平行光やVCSEL・LEDのような大きなビーム径と発散角を持つ光源でも、ビームサイズと強度分布を測定する事ができます。受光面には45mmの拡散板が採用され、拡散板に投影されたビームは筐体内で約8分の1に縮小し、カメラの素子に結像されます。 VCSEL、LED、ファイバーレーザーは、多くの精密なアプリケーションで使用されています。デバイスの高品質を保証するには、ビームプロファイルを分析することが不可欠ですが、これらの大きな、発散角のあるビームは、測定システムに特定の条件が必要とされます。:

  • 従来のビームプロファイラーの開口部は小さすぎて、大きな光源または大きな発散角を持つ光源のビーム径は測定できません。
  • ディテクターの量子効率は入射角に大きく依存するため、通常のディテクターでは発散ビームを正確に測定できません。WB-Iのコンパクトで頑丈、且つ携帯可能な設計により、VCSELおよびLEDシステムのビ ームプロファイリングは生産ラインやR&Dラボでの運用と同じように顧客サイトでの測定が可能となります。
  • 標準のビームプロファイラは入射角15°迄が対応可能であるのに対し、入射角最大70°まで測定を可能にします。
  • WB-Iは、カメラ、BeamGageソフトウェアと共に利用する事で、リアルタイムなビーム形状の分析と視覚化を提供します。
  • 簡易NDフィルタ やアイリスを用いた可変減衰により、異なるパワーを持つ光源でも測定可能です。
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次の分野での研究開発、生産、およびサービスに指定されています: 光通信、自動車、リモートセンシング、顔やジェスチャーの認識システム

測定可能な項目: ファーフィールドでの強度分布、発散角、VCSEL用LIVスイープテスト(ビームプロファイル 対 電流(A))

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