Призмы для ослабления лазерного пучка Ослабление лазерного пучка с использованием одно- и двухпризменных аттенюаторов
Призмы для ослабления лазерного пучка Ослабление лазерного пучка с использованием одно- и двухпризменных аттенюаторов
Призменное устройство для формирования измерительного пучка на передней поверхности (PFSA) представляет собой устройство с резьбовым креплением типа С-mount, включающее прямоугольную призму из специального плавленого кварца с высоким коэффициентом пропускания в УФ-области. Устройство используется в системах с высоким уровнем мощности/энергии для формирования измерительного пучка путем отражения от передней поверхности. Отражение при номинальном угле падения 45° зависит от поляризации и длины волны; при длине волны 532 нм отражается 8,27% потока излучения s-поляризованных волн и 0,68% потока излучения p-поляризованных волн.
- C-mount fixture housing
- UVFS right angle prism
- Sample the front surface reflection Показать все функции
Характеристики
- Spectral Range200-2500 nm
- Angle of Incidence45°
- ReflectionP: 0.64-0.88%, S: 8.01-9.40%
- Damage Threshold100 MW/cm2
- Surface Accuracyλ/10
- Surface Quality20-10 Scratch-Dig
- MaterialUV-Grade Fused Silica
- Clear Aperture14x14 mm
- InterfaceC-mount
Функции
Single and Dual Prism Front-Surface Beam Samplers
The Front-Surface Beam Sampler is available as either a single prism (PFSA) or dual orthogonal prism (DPFSA) unit. Reflection of the prism at the nominal incidence of 45° is polarization and wavelength dependent, with 532 nm s-polarization reflected at 8.27%, and p-polarization at 0.68% for PFSA. The DPFSA configuration results in polarization independent reflection of 0.057% at 532 nm.
| Reflection at λ (nm) | P- Polarization | S- Polarization |
|---|---|---|
| 248.3 | 0.88% | 9.40% |
| 351.1 | 0.75% | 8.65% |
| 532 | 0.68% | 8.27% |
| 1064 | 0.64% | 8.01% |
Other filters and attenuators can be attached using the C-mount female threads at the input end. The use of a right-angle prism to sample the incident beam guarantees that any scattered secondary beams do not interfere with the measurement.
Ресурсы
Data Sheets
Catalogs
Laser Beam Profilers Catalog (7.6 MB, PDF)
