NanoScan™ Scanning Slit Laser Beam Profilers
Measure your beam as never before with the NanoScan™ beam profiler. The advantage of scanning slit beam profiling is sub-micron precision for measuring beam position and size. Scan head configurations include Silicon, Germanium, and Pyroelectric versions for a wide range of wavelengths and laser power levels.
NanoScan 2s Si/3.5/1.8
- 3.5 mm aperture for beam sizes from 7 µm to 2.3 mm
- Power levels from 10 nW to 10W
- Silicon detector covers 190 to 1100 nm spectral range
NanoScan 2s Si/9/5
- Размеры пучка: от 20 мкм до приблиз. 6 мм
- Уровни мощности: от приблиз. 10 нВт до приблиз. 10 Вт
- Интерфейс USB 2.0
NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
- Размеры пучка: от 7 мкм до приблиз. 2,3 мм
- Уровни мощности: от приблиз. 10 нВт до приблиз. 10 Вт
- Интерфейс USB 2.0
NanoScan 2s Ge/9/5
- Размеры пучка: от 20 мкм до приблиз. 6 мм
- Уровни мощности: от приблиз. 10 нВт до приблиз. 10 Вт
- Интерфейс USB 2.0
NanoScan 2s Pyro/9/5
- 9 mm aperture for beam sizes from 20 µm to 6 mm
- Power Levels of 5 mW to 100 W
- Pyroelectric detector covers 190nm to 100 µm spectral range
