OphirBlog

カメラベースのレーザービームプロファイリングシステムにより、ビームの空間的均一性をリアルタイムで表示および測定できます。カメラと解析ソフトウェアで構成されています。多くの場合、このシステムは、レーザーの用途に応じて、ビーム減衰またはビームサイジングのアクセサリと共に使用する必要があります。 カメラベ…

SLMのメーカーやユーザーに、レーザービームについて知っておくべきことを尋ねると、ビームプロファイルの断面という答えが返ってくることが多いでしょう。しかし、それが問題を解決する鍵ではない場合も少なくありません。 次のブログ投稿では、OphirのBeamWatch と BeamWa…

レーザー出力を測定するには多くの方法があります。フォトダイオード、サーモパイル、パイロエレクトリックセンサーなどが使用できます。この投稿では、サーモパイルを使用してレーザーを測定する方法（基本のみ）と、サーモパイルに適したレーザーの種類について説明します。 測定メカニズム サーモパイルは、サーマルデ…

産業レーザーのトラブルシューティングを簡単に – ビームプロファイリングとファイバーの直接測定

機能説明：パイロエレクトリックセンサーを用いたレーザーパワー測定

機能説明：フォトダイオードセンサーを用いたレーザーパワー計測

機能説明：サーマルセンサーによるレーザーのパワー計測

VCSELは優れたデバイスの一つです。スマートフォン、プリンター、その他の各種デバイスに組み込まれ、多様なアプリケーションに使用されています。 しかし、ベストパフォーマンスの出力の測定は困難な場合があります。

BeamWatchビームウォッチ（特許取得済み）非接触ビームモニタリングシステムは、kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測。レーザー光は機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測。シ…