Формирователь изображений широкого пучка (Wide Beam Imager)

Профилометр широкого луча Ophir Wide Beam Imager: WB-I — это компактный, откалиброванный аксессуар для камер профилирования луча, обеспечивающий калибровку размера и распределения мощности расходящегося луча большого диаметра, поступающего из таких источников, как VCSEL и LED. В аксессуаре используется 45-миллиметровая диффузионная пластина, на которую проецируется луч. Изображение затем уменьшается в 8 раз и передается на детектор камеры. Во многих чувствительных устройствах используются VCSEL, светодиоды и волоконные лазеры. Чтобы гарантировать высокое качество работы таких устройств, важно уметь анализировать профиль луча. Широкие, расходящиеся лучи предъявляют особые требования к измерительной системе:

  • Диафрагмы обычных профилометров луча слишком малы, чтобы собрать все пятно крупных или расходящихся источников света.
  • Расходящиеся лучи не могут быть точно измерены при помощи обычных профилометров, потому что квантовая эффективность устройства напрямую зависит от угла падения луча. Компактная, прочная и портативная конструкция WB-I обеспечивает профилирование луча VCSEL и СВЕТОДИОДНЫХ систем на месте. Прибор отлично подходит для работы на производственных линиях и в научно-исследовательских лабораториях.
  • Измерение расходящихся лучей значительно улучилось за счет возможности измерения угла до 70°, по сравнению с 15° стандартных профилометров луча.
  • WB-I вместе с камерой и программным обеспечением BeamGage обеспечивает анализ профиля луча в режиме реального времени и фиксирует любые изменения формы луча.
  • Переменное ослабление с помощью набора сменных фильтров или диафрагмы позволяет измерять широкий спектр источников света с различной мощностью излучения.

Разработан для НИОКР, сферы производства и обслуживания: телекоммуникации, автомобилестроение, дистанционное сканирование, распознавание лиц и жестов
Типичные источники света: VCSELs, светодиоды, широкие лазерные лучи, волокна
Типичные измерения: энергия дальнего поля, дивергенция, испытание развертки LIV VCSELs (профиль луча отн. тока (A))
WB-I поставляется в 2 версиях: UV-VIS-NIR (350-1100 нм) или SWIR (900-1700 нм), предназначенных ИК-приложений Eye- Safe. WB- I приобретается без камеры. Полный комплект с программным обеспечением BeamGage Professional для визуализации и анализа, включает камеру с высоким разрешением.

Cameras

Application example
VCSEL energy distribution directly depends on parameters such as current, pulse width and repetition rate and temperature of the device. Therefore, it is essential to measure the angle distribution of VCSELs at various stages of the manufacturing process as well as in R&D and field service. VCSEL behavior on the LIV sweep test: VCSELs are in a so called “LED mode” when there is only a low current applied. Once the current applied to the VCSEL rises, its beam profile changes to “Laser mode”:

ModelWide Beam Imager WideBeam Imager SWIR
Wavelengths350(1)-1100nm900-1700nm
Active area(2)Ø45mmØ45mm
Beam sizes (2), (3)10mm– 45mm10mm– 45mm
Angle of incidence<70°>70°
Minimum detail(4), (5)0.5mm0.5mm
Lowest measurable signal100μW/cm²(6)3μW/cm² (With Iris fully opened at 1550nm)
Maximum power exposure CW(7)200W unlimited, 1000W for 1 minute50W unlimited time
Maximum energy exposure(8)For ns pulses 1.5J/cm²N/A
CCD recess supported4.5mm CCD recess camera17.5 mm (C-Mount)
DimensionsL=258mm X Ø57mmL=265mm X Ø57mm (Ø73mm Iris control)
Weight (with camera and support)0.5 kg (0.7 kg)0.6 kg (0.8 kg)
Part numberSP90553SP90605
Notes:(1) Camera response down to 350nm. Below this, flourescence of screen will be imaged
(2) Limited to 43 mm in Y direction by camera sensor
(3) 5mm possible with reduced accuracy
(4) For low contrast artefacts, due to blur effect (~0.8mm)
(5) Small diameter evaluation error is < 5%, decreases proportionally with increased diameter
(6) With two ND1 filters mounted on camera
(7) For WB-I: 80% of the light is diffused inside system, 20% is backward scattered, WB-I SWIR: 50% of the light is diffused inside system, 50% is backward scattered
(8) At 1.064μm. For wavelengths below 0.9μm, derate to 40% of above , for <0.4μm to 20%