Ближнепольные профилометры

Ближнепольное профилирование может использоваться для анализа небольших пучков с использованием камерных профилометров или сканирующих щелевых профилометров, а также линзы микрообъектива для создания изображения пучка на детекторе. Такой метод расширяет диапазон измерений камеры и позволяет измерять меньшие пучки, которые не могут быть измерены обычными методами из-за ограничения размеров матрицы детектора. Профилирование ближнего поля используется при анализе волокон и волноводов, определении характеристик линз, а также в других областях, где требуется анализ пучков 50 микрон и меньше.