Иногда, для измерения лазерного луча требуется некоторая коррекция его параметров с тем, чтобы получить сигнал пригодный для выполнения измерений. В одних случаях мощность луча необходимо усилить, в других ослабить. Иногда требуется увеличить или уменьшить размер луча. Для этих целей применяются вспомогательные устройства корректировки луча.
Как правило, для получения сигнала, который не создаст в насыщения и не повредит камеру, требуется уменьшить мощность излучения.
Фильтры данного типа поглощают лазерное излучение примерно по тому же принципу, что и солнцезащитные очки. Одновременное использование нескольких фильтров позволяет уменьшить мощность лазерного излучения на несколько порядков.
Профилометр широкого луча Ophir Wide Beam Imager: WB-I — это компактный, откалиброванный аксессуар для камер профилирования луча, обеспечивающий калибровку размера и распределения мощности расходящегося луча большого диаметра, поступающего из таких источников, как VCSEL и LED. В аксессуаре используется 45-миллиметровая диффузионная пластина, на которую проецируется луч. Изображение затем уменьшается в 8 раз и передается на детектор камеры. Во многих чувствительных устройствах используются VCSEL, светодиоды и волоконные лазеры.
Для получения пригодного сигнала, который не создает в камере насыщения и не повреждает ее, зачастую требуется уменьшить мощность лазерного излучения, попадающего в камеру. Данные оптические делители предназначены для отражения не более десяти процентов лазерного сигнала и могут быть использованы в сочетании с другими устройствами для существенного ослабления лазерного излучения перед получением изображения.
Для получения пригодного сигнала, который не создает в камере насыщения и не повреждает ее, зачастую требуется уменьшить мощность лазерного излучения, попадающего в камеру. В таких системах мощность лазерного излучения уменьшается сначала за счет одно- или многократного формирования измерительного пучка, а затем за счет частичного поглощения пучка оптически плотными фильтрами.
При измерении малых лазерных пучков особое значение приобретает разрешение формирователя изображений. Для надлежащего анализа подаваемого сигнала необходимо, чтобы на матрицу камеры Spiricon или на щель головки NanoScan попадало изображение по размеру соответствующее рабочему диапазону детектора. Расширители пучка и микрообъективы позволяют увеличить размер пучка для проведения измерений и анализа с большей точностью.
При получении измерении больших лазерных пучков их необходимо уменьшить, чтобы размер изображения соответствовал площади детектора. Размер матрицы в камере Spiricon или размер детектора в головке NanoScan ограничивают размер пучка, который может быть проанализирован надлежащим образом. Устройства для уменьшения лазерного пятна позволяют уменьшить размер пучка для проведения измерения и анализа оптимальным образом.
Иногда пучки оказываются слишком большими для профилирования обычными способами перенаправления пучка к формирователю изображения или формирования измерительного пучка для анализа. В этом случае формирующую изображение линзу можно установить спереди формирователя изображения так, чтобы плоскость, на которую проецируется пучок, совпадала с фокальной плоскостью линзы.
Профилирование лазерных пучков УФ зачастую сопряжено с трудностями, и для решения этой проблемы предлагаются устройства преобразования излучения УФ в излучение видимого спектра.
Ближнепольное профилирование может использоваться для анализа небольших пучков с использованием камерных профилометров или сканирующих щелевых профилометров, а также линзы микрообъектива для создания изображения пучка на детекторе. Такой метод расширяет диапазон измерений камеры и позволяет измерять меньшие пучки, которые не могут быть измерены обычными методами из-за ограничения размеров матрицы детектора.
