Kalibriert abbilden – präzise messen: Ophir® Wide Beam Imager vereinfacht Messung großer und divergenter Strahlen

Darmstadt, 24.9.20 – MKS Instruments präsentiert mit Ophir® Wide Beam Imager (WB-I) ein kompaktes, kalibriertes optisches System, das die Messung großer und divergenter Strahlen deutlich vereinfacht. Leistungsverteilung und Strahldurchmesser von VCSELs, LEDs, kantenemittierenden oder Faserlasern lassen sich damit in Kombination mit einem kamerabasierten Strahlprofilmessgerät präzise messen. Das Wide Beam Imager System bildet jede Strahlform (rund, linienförmig oder eckig) ab, die zu groß ist für einen konventionellen kamerabasierten Sensor. Es verfügt über eine Apertur von 48mm und erlaubt Einfallswinkel bis 70 Grad. Die Strahlen treffen auf einem durchlässigen Diffusorschirm und werden von dort mit einer kalibrierten Optik erneut abgebildet, um ein vollständiges und präzises Bild der Intensitätsverteilung des Lichts zu erhalten. In Kombination mit kamerabasierten Strahlprofilmessgeräten eignet sich das WB-I-System für Messungen in der Entwicklung und Prüfung von VCSEL-basierenden LiDAR-Systemen, Hochgeschwindigkeits-Netzwerklösungen, 3D-Sensoren, Autofokus- und Machine Vision-Lösungen.