Schlitzbasierte Strahlprofilmessung: MKS erweitert Ophir NanoScan Produktpalette

Darmstadt, 15. August 2018 – MKS Instruments stellt gleich mehrere Neuerungen für die schlitzbasierten Profilmessgeräte der Ophir NanoScan Serie vor. So vergrößert sich der Messbereich der Ophir NanoScan Modelle mit Silizium-Messkopf auf Wellenlängen bis 1100nm. Die Messung von durchstimmbaren Lasern wird damit für Anwender deutlich einfacher und günstiger. Mit dem neuen NanoScan MIR ergänzt der Messtechnikspezialist sein Portfolio um ein schlitzbasiertes NanoScan Modell mit pyroelektrischem Messkopf für die Anwendung im mittleren Infrarotbereich. Das Profilmessgerät eignet sich für Wellenlängen von 900nm bis fünf Mikrometer. Als Highlight bietet Ophir seinen Kunden die Möglichkeit, noch bis Ende des Jahres die passende NanoScan Software in der Professional Version mit integrierter Automatisierungs-Schnittstelle ohne Aufschlag zur NanoScan Standard Software herunterzuladen.