Ist es überhaupt möglich, einen UV-Laser mittels einer CCD-Kamera mit Silizium-Sensor zu vermessen? Prinzipiell lautet die Antwort darauf: Ja, das ist möglich. Allerdings trägt die direkte UV-Strahlung den Silizium CCD-Chip mit der Zeit ab. Die Ablation addiert sich auf und hängt von der Intensität, der Wellenlänge und der Bestrahldauer des Sensors ab. Will man UV-Licht vermessen, ohne Schaden am CCD-Chip anzurichten, bildet man den Stahl am besten nicht direkt auf dem CCD-Sensor ab, sondern verwendet einen UV-Bildwandler. Risiko dabei: Ein Bildwandler oder Abschwächer kann dem Strahl Abweichungen oder Fehler aufprägen. Diese Fremdeinflüsse können die Ergebnisse der Strahlmessung und damit des angezeigten Profils verändern, so dass der Unsicherheitsfaktor der ermittelten Ergebnisse steigt. Ophir Spiricon bietet eine Vielzahl an Komponenten rund um die Strahlmessung an und verfolgt bei allen Entwicklungen das Ziel, den Laserstrahl nicht zu verändern. Im Rahmen dieses Artikels stellen wir Ihnen verschiedene Messoptionen vor, doch zunächst kehren wir noch einmal zurück zur direkten Abbildung eines UV-Strahls inklusive der Abschwächung.
