Strahlprofilmessung für 266nm bis 3000µm
In vielen Anwendungen genügt es nicht, die durchschnittliche oder aktuelle Leistung oder Energie eines Laserstrahls zu messen. Die Verteilung der Leistung innerhalb des Strahls ist von ebenso großer Bedeutung. Beispielsweise muss beim Laserschneiden der Strahl immer auf die Strahlmitte fokussiert sein, um die Leistungsdichte in einem sehr kleinen Gebiet zu konzentrieren. Konzentriert man allerdings beim Schweißen die gesamte Leistung in der Mitte, würde ein Loch in der Schweißnaht entstehen. Hier ist eine gleichmäßige Verteilung der Leistung wie in einem Top Hat Profil erforderlich.
Einführung kamerabasierte Strahlprofilmessgeräte
Ein kamerabasiertes System zur Strahlprofilmessung besteht typischerweise aus einer Kamera, Analyse-Software und Zubehör zur Strahlabschwächung. Ophir Spiricon hat das größte Kamerasortiment der Branche für Wellenlängen vom extremen UV-Bereich mit 13nm Wellenlänge bis in den langwelligen Infrarotbereich mit bis 3000µm. Für eine flexible Nutzung an Laptop oder PC gibt es für die meisten Wellenlängen Kameras mit USB- sowie FireWire-Anschluss. Weiterlesen
Kamerabasierte Strahlprofilmessung mit BeamGage
BeamGage besteht aus Kamera und Analyse-Software und wird häufig zusammen mit einem Strahlabschwächer oder Zubehör zum Anpassen der Strahlgröße verwendet. Der Vorteil der kamerabasierten Strahlprofilmessung liegt darin, dass die Struktur des Laserstrahls in Echtzeit betrachtet und gemessen wird.
Strahlprofilmessungen - Steigen Sie ein mit BeamMic
In manchen Anwendungen genügt es, die grundlegenden Charakteristiken des Laserstrahls zu kennen. BeamMic besteht aus Kamera und Analyse-Software und bietet einen adäquaten Einstieg in die Strahlprofilmessung. Häufig wird das System zusammen mit einem Strahlabschwächer oder Zubehör zur Strahlgrößenanpassung verwendet.
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Einführung schlitzbasierte Strahlprofilmessung
Ein schlitzbasiertes Strahlprofilmessgerät bewegt zwei orthogonale Schlitze vor einem linearen Photosensor durch den zu analysierenden Strahl. Das durch den Schlitz fallende Licht induziert im Sensor einen elektrischen Strom. Da der Schlitz durch den Strahl bewegt wird, ist das Sensorsignal linear proportional zum räumlichen Profil der Strahlungsdichte integriert entlang des Schlitzes. Ein digitaler Geber misst dabei die exakte Schlitz-Position. Der photoinduzierte Stromimpuls wird digitalisiert und analysiert, um von beiden Schlitzen das Strahlprofil in x- und y-Richtung zu erhalten.
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Strahlprofilmessung mit NanoScan
Die schlitzbasierte Strahlprofilmessung mit dem NanoScan ermöglicht - selbst im Bereich kleiner einem Mikrometer - höchste Präzision bei der Ermittlung von Strahlposition und -größe. Bei den Messköpfen decken Silizium, Germanium und pyroelektrische Varianten einen weiten Bereich an Wellenlängen und Laserleistungen ab.
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