BeamPeek

BeamPeek™　高出力レーザービーム測定＆プロファイリングシステム

仕様

技術仕様

製品名
BeamPeek
波長範囲
532 nm, 1030-1080 nm
最小スポットサイズ
34.5 µm
パワーレンジ
10-1000 W
焦点距離
150-800 mm
パワーメーター校正
NIST traceable calibration ±3%

ビームプロファイリング
ISO 11146 Measurements
CE コンプライアンス
Yes
UKCA コンプライアンス
Yes
中国RoHS コンプライアンス
Yes

製品名
BeamPeek
波長範囲
532 nm, 1030-1080 nm
最小スポットサイズ
34.5 µm
パワーレンジ
10-1000 W
焦点距離
150-800 mm
パワーメーター校正
NIST traceable calibration ±3%

ビームプロファイリング
ISO 11146 Measurements
CE コンプライアンス
Yes
UKCA コンプライアンス
Yes
中国RoHS コンプライアンス
Yes

リソース & ダウンロード

データシート

BeamPeek™ Datasheet(1.5 MB, PDF)

マニュアル

BeamPeek User Notes(1 MB, PDF)

カタログ

レーザービームプロファイラーカタログ（英語版）(7.6 MB, PDF)

参照資料

アディティブマニュファクチャリングにおけるレーザーのスマート測定技術(4.6 MB, PDF)

技術記事

Innovative Measurement Technology Enables Next Level Industrial Am

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