BW-PLUS-45 非接触プロファイリングシステム (P/N SP90613) は、レイリー散乱を測定することにより、950 ～ 1100 nm および 420 ～ 635 nm のレーザー波長を正確に分析します。 最小スポットサイズ 45 µmで、レーザー光は機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測。システムは可動部品が必要ない構成となっているので部品の冷却が必要。軽量でコンパクトな設計を特徴としており、用数kWクラスの工業用高出力レーザービームプロファイル計測に最適。