Der PFSA ist ein Gehäuse mit C-Mount Gewinde, in dem sich ein rechtwinkliges und UV-taugliches Quarzglas-Prisma befindet. Damit lässt sich bei Strahlanalyse-Anwendungen mit hoher Leistung oder Energie die Oberflächen-Reflektion nutzen. Die Reflektivität unter 45 Grad Einfallwinkel hängt von der Polarisation und der Wellenlänge ab, bei 532nm S-Polarisation reflektieren 8,27 % der Leistung während nur 0,68 % der P-Polarisation abgelenkt werden.
- C-mount fixture housing
- UVFS right angle prism
- Sample the front surface reflection Alle Funktionen anzeigen
Spezifikationen
- Spectral Range200-2500 nm
- Angle of Incidence45°
- ReflectionP: 0.64-0.88%, S: 8.01-9.40%
- Damage Threshold100 MW/cm2
- Surface Accuracyλ/10
- Surface Quality20-10 Scratch-Dig
- MaterialUV-Grade Fused Silica
- Clear Aperture14x14 mm
- InterfaceC-mount
Funktionen
Single and Dual Prism Front-Surface Beam Samplers
The Front-Surface Beam Sampler is available as either a single prism (PFSA) or dual orthogonal prism (DPFSA) unit. Reflection of the prism at the nominal incidence of 45° is polarization and wavelength dependent, with 532 nm s-polarization reflected at 8.27%, and p-polarization at 0.68% for PFSA. The DPFSA configuration results in polarization independent reflection of 0.057% at 532 nm.
| Reflection at λ (nm) | P- Polarization | S- Polarization |
|---|---|---|
| 248.3 | 0.88% | 9.40% |
| 351.1 | 0.75% | 8.65% |
| 532 | 0.68% | 8.27% |
| 1064 | 0.64% | 8.01% |
Other filters and attenuators can be attached using the C-mount female threads at the input end. The use of a right-angle prism to sample the incident beam guarantees that any scattered secondary beams do not interfere with the measurement.
Ressourcen
Data Sheets
Catalogs
Laser Beam Profilers Catalog (7.6 MB, PDF)



