Einführung schlitzbasierte Strahlprofilmessung

Ein schlitzbasiertes Strahlprofilmessgerät bewegt zwei orthogonale Schlitze vor einem linearen Photosensor durch den zu analysierenden Strahl. Das durch den Schlitz fallende Licht induziert im Sensor einen elektrischen Strom. Da der Schlitz durch den Strahl bewegt wird, ist das Sensorsignal linear proportional zum räumlichen Profil der Strahlungsdichte integriert entlang des Schlitzes. Ein digitaler Geber misst dabei die exakte Schlitz-Position. Der photoinduzierte Stromimpuls wird digitalisiert und analysiert, um von beiden Schlitzen das Strahlprofil in x- und y-Richtung zu erhalten. 
 
Die Schlitzapertur fungiert dabei als physikalischer Abschwächer und verhindert in den meisten Fällen eine Übersteuerung des Sensors. Umfangreiche Einstellungsmöglichkeiten des dynamischen Bereichs gewährleisten Messungen bei Laserleistungen in ganz unterschiedlichen Größenordnungen.
 
Anhand dieses linearen Profils lassen sich wichtige räumliche Informationen wie Strahlbreite, Strahlposition, Strahlqualität etc. ablesen. Diese Technik kann in unterschiedlichsten Testszenarien eingesetzt werden. Da Schlitz-Scanner Strahlen hoher Leistung ohne bzw. fast ohne Abschwächung messen können, eignen sie sich perfekt für die Strahlanalyse von Fertigungslasern.
 
Die oft in der Fertigung eingesetzten Kohlendioxid(CO2)-Laser arbeiten bei einer Wellenlänge von 10,6 Mikrometer und damit in einem Bereich, der von den meisten Kameras nicht erfasst werden kann. Schlitzbasierte Scanner bieten eine gute Möglichkeit, hochauflösende CO2-Laser mit Leistungen bis über 1000 Watt zu analysieren.

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Schlitzbasierte Analyse
der Strahldivergenz M²