NanoScan スリットスキャン式 ビームプロファイラ

NanoScan
NanoScan のワイドダイナミックレンジにより従来計測 不可能だった様々なビーム計測が、1 台のスキャンヘッド で可能となりました。
  • ワイドダイナミックレンジ
  • UV ~ FIR までのブロードな計測波長範囲
  • 1 台でビームパワー、ビーム径、ビーム位置、 ポインティングアングルを高精度解析
  • CW レーザおよびパルスレーザ計測
  • M2 レーザ伝播解析
  • マルチビーム解析
  • 平行光、拡散光計測
カタログ仕様