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Photon（オフィール・フォトン）のナノモードスキャン（NanoModeScan）モデル1740は、CCDベースのプロファイラでは測定困難あるいは不可能な紫外や赤外のレーザビーム用の完全に自動化されたM2測定専用装置で、ナノスキャン（NanoScan）スリット・プロファイラを用いISO11146に準拠した計測を行います。ISO 11146法で計測する場合、光路上に置かれたレンズで作られるビームウエストの前後の少なくとも10点でビーム径の計測が必要です。5点は人為的に作られたビームウエストの2レイリーレンジ内に、また少なくとも他の5点以上はレイリーレンジ外になければなりません。セットアップが完了すれば、すべてのM2測定はわずか20秒ほどで終了し、M2、ビームウエスト径、ビーム位置、拡がり角、各軸のレイリーレンジがレポートされます。ナノモードスキャン（NanoModeScan）の測定スピードの速さはナノスキャン（NanoScan）スリット・プロファイラの広いダイナミックレンジに依るもので、ビームウエストやファーフィールドの計測時に減衰レベルを変える必要もありません。ナノモードスキャン（NanoModeScan）では完全自動化処理としてレイリー法を用いてM2を測定することができます。レイリー法を選択すると、モードスキャン（ModeScan）がウエストにつづき両軸のレイリー・ポイントを検出し、伝搬パラメータがISOに基づきレポートされます。この方法は完全に自動化されたもので、作業者が行うのは最初のセットアップと波長とレンズパラメータの入力だけです。ただ、ウエストとレイリー・ポイントを検出する分、ISO法よりは時間がかかります。測定時間は測定するレーザに依りますが、 2、3分を超えることはありません。メリットとしては、完全自動化なので作業者はその間、別の作業が行えます。ナノモードスキャン（NanoModeScan）ではシリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックのナノスキャン（NanoScan）プロファイラが使用可能なので、<200nmから10.6 µmの波長域のレーザのM2が計測できます。

ナノモードスキャン (NanoModeScan) 仕様
センサ/ディテクタ
スキャンヘッド移動長	500mm
光軸の高さ	140-170mm
水平距離微調整	19mm
角度微調整	±2º 鉛直, ±1.4º 水平
標準レンズ	200mm EFL, BK-7平凸レンズ, 広帯域ARコート 400mm EFL, BK-7平凸レンズ, 広帯域ARコートこの他にも紫外から遠赤外までのレンズをランナップ。
光学レンズ	200mm FL, 合成石英　UVコート 350mm FL, 合成石英　UVコート 190mm FL, IRレンズ 10.6μm
最小スポット径	スキャンヘッド仕様参照
コンピュータ/電気仕様
電源	スキャンヘッド仕様参照
ファイル保存とデータロギング	Data files, ASCII Files
AC電源	110V 60Hz 標準 220V 50Hz オプション
通信	RS232インターフェースまたはUSB – RS232アダプタ要
機械寸法(mm)
NanoModeScan リニアステージ	812 × 102 × 78
Photonモーションコントローラ	273 × 89 × 57
アライメント･チャンネル	940 × 247 × 72
着脱式光シールド	787 × 777 × 110
重量
NanoModeScan リニアステージ	8.4kg
Photonモーションコントローラ	1.5kg
アライメント･チャンネル	4.8kg

	モデル名	製品概要	製品番号

ナノモードスキャン (NanoModeScan) M2計測

	MSP-NS-SI/9/5-XXX	1740モードスキャン(ModeScan) ：ナノスキャン（NanoScan）シリコン(Si)ディテクタ、有効口径9mm、5µmスリット・シリコンディテクタ、ヘッド口径63.5mm、入射口9mm、5ミクロン幅スリットのペアと適合。波長帯域190nm 〜 <1µm（1.06µm除く）。	PH00083

	MSP-NS-GE/9/5-XXX	1740モードスキャン(ModeScan) ：ナノスキャン（NanoScan）ゲルマニウム (Ge)ディテクタ、有効口径63.5mm、入射口9mm、5ミクロン幅スリットのペアと適合。波長帯域700nm 〜 <1.8µm。	PH00084

	MSP-NS-Pyro/9/5-XXX	Model 1740 ModeScan with NanoScan Pyroelectric Detector 9.0mm aperture 5μm slits. Pyroelectric detector, 63.5mm diameter head, 9mm entrance aperture, and matched pair of 5μm wide slits.	PH00085

	MSP-HPNS/9/5-XXX	1740モードスキャン(ModeScan) ：ハイパワーナノスキャン（NanoScan-HP）ヘッド、パイロエレクトリックディテクタ、有効口径9mm、スリット5µm、ヘッド口径63.5mm、入射口9mm、5ミクロン幅スリットのペアと適合。ファン空冷・スキャンヘッド。	PH00086

ナノモードスキャン (NanoModeScan) アクセサリ

	P75	75mW (最大パワーレベル) 相対値を計るオプションパワーメータ、標準200mWの代替え。P75は、Kodak Wrattenフィルタを使用しているので、高い計測均一性があり、NISTトレーサブルのパワーメータで校正し、校正された条件と同等の環境下であれば1％以下の精度。測定波長の制限があり、最大出力は75mW。シリコンおよびゲルマニウムスキャンヘッドと使用可能。※P75は注文時にご指定ください。	PH00045

	LENS 200 UV-XXX	オプション200mm石英レンズ、波長帯域190–400nm	PH00090

	LENS 400 UV-XXX	オプション石英レンズ400mm、波長帯域190–400nm	PH00091

	LENS 190 10.6	オプションレンズ、焦点距離7.5インチ、波長帯域10.6μm	PH00092

	LENS 100 VIS	オプションレンズ、焦点距離100mm、波長帯域400–700nm	PH00093

	LENS 100 NIR	オプションレンズ、焦点距離100mm、波長帯域650–1000nm	PH00094

	LENS 100 LIR	オプションレンズ、焦点距離100mm、波長帯域1000–1550nm	PH00075

	CUSTOM LENS	波長と焦点距離をご指定ください。	PH00088

	Model 1740	モードスキャン（ModeScan）レール w/o スキャンヘッド	PH00074

	1740 LENS PREP	モードスキャン（ModeScan）カスタマイズレンズ	PH00076

	1740 TRNG	モードスキャン（ModeScan）オンサイト・オペレーショントレーニング	PH00077

	USB MSP-NS-Si/9/5	モデル1740・ナノモードスキャン（NanoModeScan）自動 M² 計測システム、USB NS-Si/9/5ナノスキャン採用。波長帯域190-1000nm（10.6µm除く）、テストレンズ200mmおよび400mm	PH00233

	USB MSP-NS-Ge/9/5	モデル1740・ナノモードスキャン（NanoModeScan）自動 M² 計測システム、USB NS-Ge/9/5ナノスキャン採用。波長帯域700-1800nm、テストレンズ200mmおよび400mm	PH00234

	USB MSP-NS-Pyro/9/5	モデル1740・ナノモードスキャン（NanoModeScan）自動 M² 計測システム、USB NS-Pyro/9/5ナノスキャン採用。波長帯域700-1800nm、テストレンズ200mmおよび400mm	PH00235

	USB MSP-HPNS/10/5	モデル1740・ナノモードスキャ（NanoModeScan）自動 M² 計測システム、USB USB HPNS/9/5ハイパワーナノスキャン採用。波長帯指定。	PH00236

	200mm VIS	レンズ、可視光200mm、BK7平凸、口径25.4mm	PH00237

	400mm VIS	レンズ、可視光400mm、BK7平凸、口径25.4mm	PH00238

	200mm NIR	レンズ、200mm、NIR、BK7平凸、口径25.4mm	PH00239

	400mm NIR	レンズ、400mm、NIR、BK7平凸、口径25.4mm	PH00240

	200mm LIR	レンズ、200mm、波長帯域1000-1550nm、平凸、口径25.4mm	PH00241

	400mm LIR	レンズ400mm、波長帯域1000-1550nm、平凸、口径25.4mm	PH00242

		ビームプロファイラカタログ 107ページ(8.12 MB)
		NanoModeScanマニュアル 82ページ (2.42 MB)