LD8900HDR
ファーフィールド・LEDプロファイラ

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フォトニクスの分野では、極めて広いダイナミックレンジで光ファイバ、導波路その他の光コンポーネントを計測する方法の確立が必要とされています。DWDM技術の進歩、標準光ファイバの利用の増加、特殊光ファイバ開発の増大に伴い、より高精度の特性評価が求められています。従来はこのような非常に広いダイナミックレンジでの計測は非常に難しいものでした。しかしPhoton（オフィール・フォトン）のゴニオメトリック・ラジオメータ、LD 8900HDR ファーフィールド・ プロファイラはソリューションをご提供します。

測定パラメータ
LD 8900HDRファーフィールド・プロファイラはゴニオメトリック法を使って光部品の3次元プロファイルを93dBまでのダイナミックレンジで計測します。全ての計測は、装置の放射状計測領域の中心部に直接置かれた放射ファイバ、平面導波路、レーザダイオードで行われます。光ファイバについて言うと、光ファイバを曲げることなくファーフィールドでの分布パターン が計測できます。光ファイバを曲げての計測では分析結果が不正確になります。光ファイバで計測されるパラメータは以下の通りです。

• モードフィールド径 (MFD) ‒ ファイバと光学部品結合の不具合により生じる損失の測定に用いられます。
• 有効領域 (Aeff) ‒ 非線形効果の測定に用いられます。 開口数 (NA) ‒ ファイバ出力の角度幅の測定に用いられます。
• NAはピーク出力の何%と指定された位置の角度の1/2を用い、sinθ/2で計算されます。

モデルLD8900HDR解析ソフトウェアは、これらの光ファイバ・パラメータをファーフィールド・プロファイルから計算しますが、手順は、50dB以上を要求するTIA/EIA FOTP-191 規格に準じています。TIA/EIA FOTP-132 規格ではAeff についても 同様に50 dB 以上が求められています。 ダイナミックレンジが広いことでファーフィールド・パターンの裾野部分でS/Nの高い詳細な測定が行われます。また パラメータの測定結果がリアルタイムで得られるので製造部門や品質管理部門にとって大きなメリットとなるでしょう。

ハードウェアとコンピュータ
LD 8900HDRはモジュラーシステムで、1次元または3次元計測を行いますが、3Dモジュールと1Dモジュールは簡単に交換できます。購入は、それぞれ単独あるいは両方という形で行えます。それぞれのモジュールには特別にデザインされたファイバ取付けクリップがあり、専用のファイバ・クリーバやクリップと共に用いられ、ファイバのアライメントが正しく行われることが保証されます。さらに、導波路、レーザダイオード、LEDのワイドダイナミックレンジでの計測用に特注取付けデバイスも提供できます。

コントローラにはPCマイクロプロセッサ、データ取得カード、スキャンコントロールカード、LD 8900HDR用解析ソフトウェアが含まれます。レファレンス校正基準(NISTトレーサブルで1310nm, 0dBm LD光源使用)も入手可能です。これは製造元で計測されたレファレンスで、ユーザ側での装置評価に用いられます。可視域でのワイドダイナミックレンジ計測ではシリコンディテクタが用いられ、波長域が320-1100nm、ダイナミックレンジは103dBとさらに大きくなります。直接計測のための光源の最大の大きさは約12.7mm x 12.7mmです。

3D計測では3Dモーション・コントロール・モジュールが用いられ、光源を含む最大200の方位面データによる3次元計測が可能です。