プレスリリース

理化学向け参考文献 

テラヘルツ20W
by Eric J. Lerner/工業物理学者/ 2003年4・5月 /P9

必要ビット数
by Larry Green&Carlos Roundy/雑誌OE/2002年11月発行/P40

ビームプロファイルの落とし穴
by Larry Green/雑誌OE2002年3月発行/48頁

伝搬ファクタのプロファイルへの影響
by Carlos B. Roundy/Laser Focus World 1999年12月発行/P119-122

工業向け参考文献

Nd:Yagマーカーのビーム解析
by Lawrence Green

UVレーザのビームプロファイル

モニタリングの有効性(作業時間とコスト削減)
by Lawrence Green/Laser Focus World 2002年6月/ P71-73

オンラインビームモニタリング
by Lawrence I Green/フォトニクスウェスト@サンノゼCA/2002年1月

自動ビームプロファイラ
by Brent D. Johnson, Photonics Spectra 2002年1月/P64

自動測定ツールによる測定の安定性
by Lawrence Green/Laser Focus World 2001年3月/P165-166

レーザビームの評価
by Lawrence Green/The Fabricator2001年2月 /P38-40

レーザビームパフォーマンスのモニタリング
by Lawrence Green/The Fabricator2001年2月/ P38-40

SPCによるレーザビームの評価
by Carlos B. Roundy/Industrial Laser Solutions/2000年2月/P15-17